삼성전자 반도체연구소 MI(Metrology & Inspection)는 반도체 소자에 대한 구조 정밀 계측과 불량 검축 기술을 개발하는 분야로,

우수 인재들을 채용하고자 MI 설명회를 아래와 같이 개최하오니 많이 참석하여 주시기 바랍니다.

1. 일정 : 2013년 3월 18일(월) 15:00 ~ 16:30

2. 장소 : 301동 1층 117호

3. 대상 : 기계/전기전자/화학생물공학부 박사과정 졸업예정자 및 재학생

4. 주요기술

  - Optics System Design

   (Optical Microscopy, Ellipsometer, Interferometer, Laser Optics)

 - Mechanical System Design

   (Stage Control, Vibration Simulation, System Noise Analysis)

 -Advanced Metrology Technique

   (Scanning Electron Microscopy, X-ray Analysis, Helium Ion Microscopy)

 - Simulation Technique

   (Monte Carlo Simulation, RCWA & FDTD Simulation for light and electron)

 - Image Processing Technique

   (Edge Datection, Signal-to-Noise Analysis)